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光刻膠剝離

Photoresist Strip / Ashing

概念 ID
photoresist-strip-ashing
更新時間
2026-05-29
來源數量
待補

概念

3 秒看懂

一句話定義:光刻膠剝離(Photoresist Strip),又稱去膠或灰化(Ashing),是半導體制造中在刻蝕或離子注入完成後將光刻膠掩膜從晶圓表面徹底清除的工藝環節。它是光刻-刻蝕迴圈的閉環步驟,單枚晶片全生命週期需重複該工序數十至上百次,任何殘留或損傷均可能導致整片晶圓報廢,是良率保障的核心關卡之一。

核心價值主張:如果光刻是”畫圖”,刻蝕是”雕刻”,那麼光刻膠剝離就是”完美擦除草稿”——既要擦得乾淨(零殘留),又不能擦破紙(零損傷),還得擦得快(高產出)。

與刻蝕的本質區別:刻蝕追求各向異性(垂直方向),以精確轉移圖形;剝離/灰化則追求各向同性(全方位均勻去除),以徹底清除犧牲層。

3 分鐘產業解釋

為什麼要剝離光刻膠?

光刻膠作為圖形轉移的臨時掩膜,在完成使命後必須被徹底移除,原因有三:

  1. 避免汙染後續工藝:殘留的光刻膠中的碳、氫、氧等元素在高溫退火、薄膜沉積等後續步驟中會擴散至功能層,導致電學特性偏移。根據行業經驗,後道製程(BEOL)中光刻膠殘留是導致金屬互連短路/斷路的Top3缺陷源。
  2. 釋放裝置產能:每一層圖形化後的晶圓必須經過剝離才能進入下一輪塗膠-曝光迴圈。剝離工藝的吞吐量(Throughput)直接影響整線產能(Wafer Per Hour, WPH)。
  3. 滿足潔淨度要求:現代半導體潔淨室要求晶圓表面顆粒數控制在極低水平(如≤0.1個/cm² @ ≥45nm缺陷),剝離工藝是達成該指標的關鍵環節。

剝離發生在哪些環節?

在典型CMOS工藝流程中,光刻膠剝離至少出現在以下場景:

序號工藝環節剝離物件難度特徵
1淺槽隔離(STI)刻蝕後用於保護有源區之外的硬掩膜版光刻膠光刻膠經刻蝕高強度轟擊後碳化,去除難度大
2柵極刻蝕後柵極圖形定義所用的光刻膠柵極氧化層極薄(<2nm),對損傷極度敏感
3離子注入後阻擋特定區域注入的光刻膠(極高劑量注入後光刻膠嚴重交聯)注入劑量可達1×10¹⁶ ions/cm²,光刻膠外殼形成類金剛石碳層,是公認的最難剝離場景
4接觸孔/通孔刻蝕後定義互連孔洞的光刻膠深高寬比結構(>10:1),需確保孔底無殘留
5金屬導線(Damascene工藝)刻蝕後定義金屬溝槽的光刻膠需相容Low-k介質(k<2.5),避免k值漂移
6後段鈍化層開口後定義PAD/凸塊的光刻膠(厚膜,可達數十微米)厚膜剝離需要高去除速率以維持產出

產業價值量化

根據全球半導體裝置與材料行業共識測算,光刻膠剝離裝置與材料2023年全球市場規模合計約為23-28億美元(其中裝置約15-18億美元,材料約8-10億美元),約佔半導體制造裝置總市場的1.5%-2%。雖然單環節佔比不高,但與晶圓製造產能擴張呈高度線性相關(相關係數>0.95),是追蹤晶圓廠資本支出景氣度的良好指標。該測算綜合參考Gartner、Yole、SEMI等行業機構交叉資料,精確統計口徑以各機構最新報告為準。

技術原理

光刻膠的化學本質與剝離邏輯

主流光刻膠的成膜樹脂為酚醛樹脂(Novolak)聚對羥基苯乙烯(PHS)衍生物,本質上是以碳氫骨架為主的有機高分子聚合物。剝離的化學本質,就是切斷這些高分子鏈,將其轉化為可揮發或可溶解的小分子產物。

幹法剝離(等離子體灰化)核心機理

幹法剝離是前道製程(FEOL)的主流方式,其核心是氧自由基(O*)對碳氫聚合物的氧化分解

第一步:等離子體激發

O₂ + e⁻(高能電子)→ 2O* + e⁻
O₂ + e⁻ → O₂⁺ + 2e⁻

第二步:自由基與光刻膠反應(主反應)

CxHy(固態光刻膠) + O* → CO₂↑ + H₂O↑ + 其他揮發性有機物↑

第三步:輔助氣體作用

對於含矽或其他頑固殘留,引入含氟氣體:

CF₄ + e⁻ → CF₃* + F*
含矽殘留 + F* → SiF₄↑(揮發性產物)

關鍵:等離子體損傷機制

光刻膠剝離面臨的核心技術矛盾是高去除速率 vs. 低底層損傷。損傷主要來自兩個方面:

  1. 離子轟擊損傷(物理損傷):等離子體中的正離子(如O₂⁺)被自偏壓加速轟擊晶圓,導致底層材料晶格紊亂、表面粗糙度增加。最新研究方法是通過**遠端等離子體源(Remote Plasma Source, RPS)**將等離子體激發區與晶圓處理區分開,使到達晶圓的主要為中性的氧自由基而非帶能量的離子。RPS技術可將離子能量從常規的數十eV降低至<5eV。

  2. 氧化損傷(化學損傷):氧自由基對底層材料的化學侵蝕。例如:

    • 金屬氧化:銅、鈷互連材料被氧化為CuO、CoO,增加接觸電阻;釕(Ru,先進節點蝕刻停止層材料)在O₂等離子體中會生成揮發性的RuO₄,導致材料損失。
    • Low-k介質損傷:氧自由基奪取Low-k材料(SiCOH類)中的-C-H₃基團,導致Si-OH形成,k值上升(吸水後更甚)。
    • 高k介質損傷:HfO₂等高k柵介質在富氧等離子體中氧空位濃度變化,導致閾值電壓漂移。

低損傷技術方向

  • 還原性氣體配方:使用H₂/N₂、NH₃等代替O₂,避免氧化損傷。2020年後,H₂/N₂基配方在先進節點(≤7nm)的後段剝離中佔比快速提升(公開資料未見精確市佔率)。
  • 脈衝等離子體:以高頻脈衝替代連續波,在脈衝關閉期讓表面電荷和熱量分散,降低損傷積累。
  • 低溫工藝:將晶圓溫度控制在100°C甚至室溫(標準灰化溫度通常為200-300°C),以減少熱啟用的副反應。Lam Research的IceFill™技術即採用超低溫路線,針對極高劑量注入(1×10¹⁶ ions/cm²)的光刻膠去除有顯著效果。

溼法剝離核心機理

溼法剝離通過化學藥液溶解或分解光刻膠,其反應路徑取決於藥液體系:

SPM體系(硫酸/雙氧水混合物)

H₂SO₄ + H₂O₂ → H₂SO₅(過一硫酸,Caro's酸,強氧化劑)
過一硫酸 + 光刻膠有機骨架 → CO₂↑ + H₂O + 可溶性有機物

SPM的典型配方為H₂SO₄:H₂O₂體積比 2:1至8:1,操作溫度120-150°C。該體系對常規光刻膠去除速率高,但對高劑量離子注入後的碳化層去除能力有限。據公開資料,SPM仍是28nm及以上成熟製程溼法剝離的主力配方(行業調研估計佔比>70%)。

有機胺/溶劑體系: 針對先進製程中SPM對Low-k、銅、鈷等材料的腐蝕問題,發展了基於有機胺(如羥胺NH₂OH、四甲基氫氧化銨TMAH)配合極性非質子溶劑(如DMSO、NMP)的配方體系。其機理為有機胺滲入光刻膠膜層,使高分子鏈溶脹乃至斷裂,隨後以溶解方式去除。該體系對底層材料腐蝕性遠低於SPM,但成本約為SPM的3-8倍(行業訪談估算,具體配方系供應商核心商業秘密)。

幹法+溼法組合工藝(行業標準實踐)

現代產線中,單片晶圓的光刻膠剝離流程通常為:

幹法灰化(去除主體90-95%)
→ 溼法清洗(去除殘留/金屬沾汙/聚合物)
→ 超純水沖洗
→ IPA(異丙醇)乾燥或Marangoni乾燥

幹法負責高效去除絕大部分光刻膠,溼法負責清理灰化後的微量殘留和金屬沾汙(金屬離子無法通過灰化揮發)。兩者協同互補,缺一不可。


關鍵引數

以下為評判光刻膠剝離工藝優劣的核心量化指標,資料口徑為企業公開技術資料與學術文獻的典型值範圍:

1. 殘留(Residue)

指標定義:剝離後晶圓表面的光刻膠衍生殘留物,包括碳基殘留、含氟聚合物殘留、金屬氧化物顆粒等。

表徵方法

  • 掃描電子顯微鏡(SEM)檢測:>10nm可見殘留
  • X射線光電子能譜(XPS)檢測:表面殘餘碳原子百分比(通常要求<5% at)
  • 暗場缺陷檢測裝置(如KLA Surfscan系列):顆粒數/晶圓

先進節點要求:5nm及以下節點,要求SEM下零可見殘留,且後道金屬接觸電阻因殘留導致的波動應<1%(台積電2022年技術論壇公開資料)。

2. 損傷(Damage)

指標定義:剝離工藝對底層功能材料的物理或化學改性程度。

主要表徵項

  • Low-k介質k值漂移:Δk < 0.1為優秀,Δk < 0.2為可接受(28nm及以上節點);先進節點(≤7nm)對Δk更為敏感,指標收緊至<0.05(公開資料未見統一行業標準,為裝置商對標材料摘要)。
  • 金屬氧化層厚度:銅氧化層<1nm(通常要求CuO厚度小於後續CMP可去除量),鈷氧化層<0.5nm。
  • 矽襯底表面粗糙度:原子力顯微鏡(AFM)測量Ra值,要求<0.2nm(1Å級別)。
  • 電學測試:柵極漏電流(Jg)增加<5%、閾值電壓(Vt)漂移<10mV。

3. 選擇性(Selectivity)

計算公式

選擇比 = 光刻膠去除速率 / 底層材料損失速率

典型要求

  • 對Si:>100:1(灰化中SiO₂可接受少量損失)
  • 對SiO₂:>50:1
  • 對SiN:>30:1
  • 對Low-k(k≈2.5):>20:1(含化學損傷等效折算)

EUV膠的特殊性:EUV光刻膠通常含金屬氧化物奈米顆粒(以提高EUV吸收),其與底層材料的選擇性剝離對氣體配方提出了新挑戰。公開資料顯示,Lam Research和TEL在2023-2024年期間均推出了針對EUV膠的專用灰化工藝方案。

4. 剝離速率與均勻性

剝離速率(Strip Rate)

  • 一般幹法灰化速率:2-10 μm/min(等效光刻膠去除速率)
  • 高劑量注入後的碳化層去除速率會降低至正常的10-30%

均勻性(Uniformity)

  • 晶圓內(Within-Wafer, WIW):先進工藝要求<3%(3σ/均值)
  • 批次間(Wafer-to-Wafer, WTW):<2%
  • 批間(Lot-to-Lot):<3%

裝置產出:單片晶圓灰化時間(Process Time)+傳送時間(Overhead),折算為WPH。一臺高階單片灰化裝置典型WPH為150-300片(視配方複雜程度)。據屹唐半導體招股書(2021年),其幹法去膠裝置標準配置的WPH約為200-300片(針對特定應用)。

5. 顆粒增加(Particle Adder)

定義:剝離工藝步驟自身引入的新顆粒數。

測試方法:在超潔淨(<10顆粒 @ ≥90nm)的測試晶圓上執行剝離工藝,測量前後顆粒數差值。

指標:先進節點要求增加值<10顆 @ ≥45nm粒徑。對≥19nm(kill defect)顆粒,要求零增加。

6. 金屬沾汙(Metallic Contamination)

幹法灰化腔體內部部件濺射可能引入Al、Fe、Cr等金屬沾汙;溼法藥液的金屬雜質也會轉移至晶圓。

指標(基於VPD-ICP-MS測量):

  • 關鍵金屬(Na, K, Ca, Fe, Cu, Zn)< 1×10¹⁰ atoms/cm²
  • 致命金屬(Au, Ag)< 1×10⁹ atoms/cm²

技術路線

技術路線總覽

維度溼法剝離幹法剝離(等離子體灰化)乾溼組合
工藝原理液體化學品對光刻膠的溶解/氧化分解等離子體激發氧自由基氧化光刻膠為揮發性產物幹法去主體 → 溼法精清洗
典型裝置單片旋轉噴霧式(Single Wafer Spray Tool)、批次浸泡式(Wet Bench)遠端等離子體灰化機(RPS Asher)、微波/ICP灰化機整合式灰化+清洗簇裝置(Cluster Tool)
典型藥液/氣體SPM、有機胺/DMSO配方、稀釋HFO₂、O₂/N₂、H₂/N₂、CF₄/O₂、NH₃
去除速率中等(~1-5 μm/min,浸泡式較慢)高(~2-10 μm/min)取決於組合方案
各向同性優秀(液體可滲透高深寬比結構)良好(遠端等離子體自由基無方向性)兼優
底層損傷風險化學腐蝕為主(針對特定材料)離子轟擊+氧化損傷(通過RPS大幅抑制)低(協同最佳化)
適用製程BEOL金屬剝離、高深寬比孔洞、高劑量注入後輔助清洗FEOL主體去膠、STI/柵極/源漏注入後灰化先進邏輯/儲存的標準實踐
環保/EHS產生大量酸性廢液和有機廢液,處理成本顯著僅產生少量尾氣(經燃燒/洗滌處理),無液體廢料
裝置價值量(ASP)單片裝置約200-400萬美元;批次式約100-200萬美元高階RPS Asher約300-600萬美元/腔室(含整合簇)
主要供應商SCREEN、TEL(清洗裝置搭載溼法剝離模組);化工企業提供藥液:Entegris、關東化學、Stella Chemifa、巴斯夫Lam Research(全球龍頭)、TEL、Applied Materials;國內:屹唐半導體、中微公司(部分版面配置)各裝置商整合

注:裝置ASP為行業公開訪談及分析報告推算範圍,並非特定公司報價,實際價格因配置(腔室數量、自動化水平、氣體櫃選配等)差異顯著。

技術路線一:溼法剝離演進

第一代:SPM體系(1970s-2000s, >90nm)

  • 通用性最強,至今在成熟節點廣泛使用
  • 侷限:對銅、Low-k等新材料相容性差;高劑量注入後碳化層去除需極長時間

第二代:專用有機配方(2000s-2010s, 90nm-28nm)

  • 針對銅Damascene工藝,開發不腐蝕銅的有機胺配方
  • 針對Low-k材料(k≈2.7-3.0),開發低k值漂移的特種剝離液
  • 全球主要配方供應商的專利版面配置在此階段大幅增長(據WIPO專利檢索,2005-2015年光刻膠剝離液相關專利申請量較此前10年增長約3倍)

第三代:高選擇性、環保型配方(2010s至今,≤16nm)

  • 低表面張力配方,提升高深寬比結構內的滲透能力
  • 降低有機溶劑用量,開發水基半水性配方以降低VOC排放與EHS風險
  • 針對EUV膠、新型金屬(鈷、釕、鉬)的相容性配方研發(Entegris、關東化學等頭部供應商2020-2024年的主要研發方向)

技術路線二:幹法剝離演進

第一代:直接等離子體灰化(1980s-2000s)

  • 平行板或桶式等離子體源,晶圓直接浸沒於等離子體中
  • 離子能量高(>50eV),底層損傷顯著,無法滿足<90nm先進製程

第二代:遠端等離子體源(RPS)+ 下游處理(2000s-至今)

  • 等離子體在遠離晶圓的上游腔室中產生,通過柵網/擋板過濾掉離子和UV光子,只讓中性自由基到達晶圓
  • 離子能量可低至<5eV,底層損傷大幅降低
  • Lam Research的GAMMA®系列即採用RPS技術路線(公開資料,其GAMMA平台為幹法去膠市場份額領先產品)

第三代:多模式等離子體源 + 智慧控制(2015s-至今)

  • 整合ICP(電感耦合等離子體)+ RPS雙模式,根據不同工藝靈活切換
  • 引入脈衝等離子體、多頻偏壓等先進控制手段
  • 線上終點檢測(Endpoint Detection):通過光學發射光譜(OES)即時監測CO、OH等反應產物發光,精準判斷灰化終點,避免過度處理。第三方裝置市場研究指出,帶OES閉環控制的灰化裝置佔比在2022年已達約80%(以銷售額計)

第四代:低溫/超低溫灰化(2020s-)

  • 將晶圓溫度降至<0°C(Lam Research IceFill™為標誌性技術方案)
  • 低溫抑制了氧自由基對底層材料的化學侵蝕速率(化學反應的溫度依賴性符合Arrhenius方程),同時利用熱應力效應輔助剝離高劑量注入形成的碳化硬殼
  • 截至2024年公開資料,超低溫灰化主要用於極高劑量離子注入(>1×10¹⁶ ions/cm²)場景,覆蓋面尚窄,但被視作3nm及以下節點的關鍵預備技術

技術路線三:新興技術方向

超臨界CO₂剝離(研發階段)

  • 利用超臨界CO₂(零表面張力、高擴散性、高溶解力)配合少量共溶劑去除深高寬比結構中的光刻膠
  • 美國、日本高校及研究機構(公開文獻可見於J. Vac. Sci. Technol. B等期刊)發表了相關可行性研究,但2024年未見規模化量產應用報道,產業化仍需解決裝置成本與產率問題

乾冰/氣溶膠輔助剝離(研發階段)

  • 將固態CO₂微顆粒或氣溶膠高速噴射至晶圓表面,通過物理衝擊輔助去除頑固殘留
  • 可能對脆弱的懸浮結構(如GAA奈米片)造成機械損傷,在尖端節點的推廣前景仍有待驗證

上游

上游一:幹法剝離裝置核心部件供應商

幹法灰化裝置的硬體核心是等離子體源腔體

核心部件關鍵效能主要供應商競爭格局
RF電源(射頻電源)頻率穩定性、功率範圍、多頻輸出能力MKS Instruments、Advanced Energy(美國);Comet(瑞士);京通科技(中國)美系主導,國產處於追趕階段
遠端等離子體源模組(RPS)自由基產生效率、離子過濾效果、壽命MKS Instruments(市場領導者)、New Power Plasma(韓國)MKS是Lam Research的核心RPS供應商,市場高度集中
真空系統(腔體、泵、閥)真空度、抽速、顆粒控制Edwards(Atlas Copco)、Pfeiffer Vacuum(德國);國產:漢鍾精機、中科儀歐系主導,國產在中低端市場滲透率提升
陶瓷/石英腔體部件等離子體耐受性、顆粒脫落率、壽命CoorsTek(美國)、NGK(日本)、京瓷(日本);國產:中瓷電子、珂瑪科技日美系長期主導,2020年後國產供應商進入部分國內裝置商供應鏈(公開資訊)
自動化/傳片系統晶圓搬運速度、潔淨度、可靠性Brooks Automation(美國)、Rorze(日本);國產:新松機器人、華卓精科進口占比高

據行業調研估算(Yole/Gartner等機構基礎資料交叉推算),幹法去膠裝置的BOM成本中:

  • RF電源與RPS模組合計約佔25-35%
  • 真空系統約佔15-20%
  • 腔體/石英件約佔10-15%
  • 自動化/控制系統約佔15-20%
  • 其他(組裝、管線、機櫃等)約佔15-25%

上游二:溼法剝離化學品原料

溼法剝離液的核心原料及其供應商(公開資訊整理):

原料純度要求主要供應商備註
硫酸(H₂SO₄)電子級(SEMI C12 Grade 5, PPT級金屬雜質)巴斯夫、三菱化學、關東化學;國產:江化微、晶瑞電材、格林達大宗化學品,供需格局較穩定
雙氧水(H₂O₂)電子級(SEMI Grade 5, 金屬雜質100ppt)三菱瓦斯化學(全球龍頭,估計市場份額50%)、Solvay;國產:中巨芯供應集中度高,2022-2023年因需求增長和產能受限出現階段性緊張
羥胺(NH₂OH,50%水溶液)電子級(金屬雜質<10ppb)BASF(全球最大)、日本觸媒產能高度集中,是溼法剝離液配方的核心限速原料之一
有機溶劑(DMSO、NMP等)電子級(金屬雜質<1ppb)BASF、三菱化學、LyondellBasell;國產:興發集團NMP因環保法規趨嚴,部分產能受限,價格波動明顯
專用配方新增劑供應商核心機密各配方供應商自行合成或外購通常為功能性高分子表面活性劑或螯合劑,用於提升選擇性和潤溼性

溼法剝離液配方供應商格局(2023年公開資料估算):

全球高階溼法剝離液配方市場集中度較高,主要供應商包括:

  • Entegris(美國):通過併購整合(包括Sachem等)成為全球半導體溼法化學品配方龍頭,2023年半導體材料營收約19億美元(公司年報),其中溼法清洗/剝離有關產品線是重要構成
  • 關東化學(日本):日本市場高階溼法電子化學品龍頭之一,台積電、三星等頭部晶圓廠供應商
  • Stella Chemifa(日本):超高純氫氟酸及相關配方知名供應商
  • Soulbrain(韓國):三星、SK海力士核心供應商
  • 東進世美肯(Dongjin Semichem,韓國):三星重要材料合作伙伴
  • 巴斯夫(德國):電子級化學品上游原料巨頭,同時也提供部分高階配方
  • 國內企業:安集科技(銅/鈷阻擋層拋光液和清洗液已進入中芯國際、華虹等產線,向剝離液領域拓展)、江化微(面板和半導體溼化學品,剝離液產品線已覆蓋G4/G5等級)、晶瑞電材(雙氧水及部分配方產品)、上海新陽(後道封裝用溼法化學品)

溼法剝離液的高階配方壁壘極高(需要針對特定產線工藝進行配方定製和長達1-3年的驗證週期),客戶粘性強,頭部供應商的市場地位較為穩固。

上游三:幹法剝離工藝氣體

氣體純度要求主要供應商備註
O₂超高純(>99.9999%)Linde、Air Liquide、Air Products、大陽日酸;國產:華特氣體、金宏氣體大宗電子氣體,供應格局穩定
N₂超高純(>99.9999%)同上自建氮氣站為主,外購為輔
H₂超高純(>99.9999%)Linde、Air Liquide、Air Products;國產:華特氣體易燃易爆,對供氣系統安全設計要求嚴格
CF₄及其他含氟氣體電子級Linde、Air Products、關東電化、昭和電工;國產:華特氣體、雅克科技(UP Chemical)受溫室氣體排放政策約束(CF₄ GWP=7390),裝置商正研發低GWP替代配方

工藝氣體成本在幹法剝離的單片成本(CoO, Cost of Ownership)中佔比較小(估計<10%),但在先進氣體配方(如NH₃、COS等高值氣體)中有所上升。


下游

下游一:邏輯晶片製造(最大單一應用市場)

邏輯晶片的多層金屬互連結構決定了光刻膠剝離是工藝迴圈中的高頻步驟。以台積電5nm工藝(N5)為例:

  • 總光罩層數:公開資料未見台積電N5精確數字,但業內估計先進邏輯節點總光罩層數在80-100層;三星在2018年公開其7nm EUV工藝約有80-85層光罩;Intel 10nm工藝據公開報道超過70層。據此推斷,N5級別光刻膠剝離工序約為80-100次/晶圓
  • 關鍵剝離難度排序(從高到低):
    1. 源漏離子注入後去膠(極高劑量、嚴重交聯)
    2. 柵極刻蝕後去膠(高k介質保護至關重要)
    3. 通孔/接觸孔刻蝕後去膠(高深寬比殘留清除)
    4. 金屬溝槽刻蝕後去膠(Low-k相容性)
    5. 一般刻蝕後去膠

邏輯客戶採購特徵

  • 台積電:全球最大光刻膠剝離裝置和材料消耗方。2023年臺積電資本支出約304億美元(公司年報),其中裝置採購約佔70-75%(約210-230億美元),幹法去膠裝置佔比估計約1-2%(即約3-5億美元,單項金額不大),但受產能擴張線性拉動。
  • 三星:2023年半導體(含Foundry+儲存)資本支出約53.1萬億韓元(約400億美元,含儲存),其Foundry剝離需求類似台積電。
  • Intel:2023年資本支出約257億美元(公司年報),同樣有大量剝離工序需求。

下游二:儲存晶片製造

3D NAND

  • 堆疊層數已突破300層(SK海力士2023年宣佈321層NAND開發成功),高深寬比溝槽(>100:1)內的光刻膠剝離是巨大挑戰
  • 根據第三方分析報告,3D NAND製造中光刻膠剝離工序次數約40-70次/晶圓,少於邏輯但深寬比挑戰更大
  • 剝離氣體需具備極強的各向同性滲透能力,且不能損傷溝槽側壁的儲存膜層(ONO或High-k IPD)

DRAM

  • 隨著從1x到1y、1z及1α、1β、1γ工藝微縮,電容深寬比持續增大(1β DRAM電容深寬比估計已超過100:1),刻蝕後去膠難度持續升級
  • 據公開行業分析,DRAM工藝中光刻膠剝離步驟約30-50次/晶圓

儲存客戶採購特徵

  • 三星(全球DRAM/NAND雙龍頭)、SK海力士、美光(2023年資本支出約77億美元)週期性資本投入對剝離裝置採購影響顯著
  • 儲存客戶對剝離裝置的**單臺產出(WPH)**要求極高,因其單片成本和售價均低於邏輯晶片

下游三:特色工藝與化合物半導體

  • 功率器件/IGBT/SiC:高能離子注入(數MeV級)後去膠極為困難,且SiC晶圓價格昂貴,對低損傷剝離需求強烈
  • MEMS/感測器:厚光刻膠(數十至數百微米)的去除,對剝離速率提出高要求
  • 射頻(RF)前端:GaAs/InP等化合物半導體材料在等離子體中易分解(As/P揮發),對剝離工藝的化學選擇性提出獨特要求(需專有配方,防止V族元素損失導致表面化學計量比失衡)

受益公司

免責宣告:以下僅為光刻膠剝離產業鏈相關公司的客觀業務描述,基於公開資料整理,不構成任何形式的投資建議、買賣建議或價值判斷。市場有風險,決策需獨立判斷。

幹法去膠裝置

公司上市資訊相關業務描述市場地位(公開資訊判斷)
Lam Research(科林研發集團)Nasdaq: LRCX幹法去膠裝置全球市場份額領導者,GAMMA®系列為代表產品。2023財年(截至2023年6月)營收174億美元(公司年報),去膠裝置歸屬其刻蝕產品線。全球第一(估計市場份額>40%,行業訪談交叉驗證)
Tokyo Electron(東京電子)TSE: 8035提供幹法去膠及配套溼法清洗裝置,與Lam在多數大型客戶中競爭。2023財年(截至2023年3月)半導體生產裝置營收約1.9萬億日元(公司年報)。全球第二(估計市場份額~20-25%)
Applied Materials(應用材料)Nasdaq: AMAT去膠裝置為其半導體產品線的一部分,市場佔比低於前兩者但仍有競爭力。2023財年半導體系統營收約198億美元(公司年報)。全球第三(估計)
PSK(韓國)KOSDAQ: 319660韓國本土幹法去膠裝置龍頭,三星和SK海力士核心供應商。2023年營收約2,300億韓元(公開資料)。韓國市場主力,全球有一定份額
屹唐半導體(Mattson Technology)科創板IPO已受理(2021年)國內幹法去膠裝置龍頭,招股書顯示其幹法去膠裝置在國內主要晶圓產線中已有應用,並進入部分海外客戶。2020年營收約11.8億元人民幣(招股書)。國內市場國產替代核心標的,全球市場份額較小但增長中
中微公司(AMEC)科創板: 688012以刻蝕裝置為核心,公開資料顯示其等離子體技術能力可支撐去膠裝置開發,2024年見少量該產品線資訊揭露,市場端尚處於早期階段。潛在進入者

幹法去膠裝置市場份額估計(2023年,行業估算,僅供參考):

公司估計全球市場份額主要客戶群
Lam Research~45-50%台積電、Intel、三星、SK海力士等全球幾乎所有頭部晶圓廠
Tokyo Electron~20-25%台積電、三星、SK海力士、鎧俠等
Applied Materials~10-15%全球廣泛
PSK~5-8%三星、SK海力士為主
屹唐半導體~2-4%國內晶圓廠為主;少量海外
其他~5-8%

注:該市場份額為綜合裝置出貨量、行業訪談和券商分析報告的間接估計,尚無單一權威機構釋出精確統計,實際份額存在變化。

溼法剝離化學品

公開資料未見精確的溼法剝離液全球市場份額統計(配方種類龐雜、定製化程度高導致統計口徑難以統一)。以下為主要參與者及定性描述:

  • Entegris(Nasdaq: ENTG):通過收購整合CM Chemicals/Sachem等打造溼法化學品平台,在高階配方品領域具有顯著影響力。2023年全年營收35.2億美元,先進材料解決方案(AMS)部門(涵蓋溼法化學品)貢獻約40%。
  • 關東化學(日本,未上市):高純度溼法化學品日本龍頭,產品覆蓋半導體全流程。
  • Soulbrain(韓國,KOSDAQ: 357780):2023年營收約1.5萬億韓元,其中半導體材料(蝕刻液、剝離液、拋光液等)佔約70%。
  • 東進世美肯(韓國,KOSDAQ: 005190):2023年營收約1.3萬億韓元,半導體和顯示材料業務並重。
  • 安集科技(科創板: 688019):2023年營收14.2億元(公司年報),以CMP拋光液和清洗液為核心,溼法剝離液為拓展方向。
  • 江化微(滬主機板: 603011):2023年營收約11億元(公司年報),剝離液應用於面板和半導體,半導體板塊營收佔比持續提升。
  • 晶瑞電材(深創業板: 300655):高純雙氧水及部分配方剝離液產品,2023年營收約18.5億元(含鋰電材料)。

市場規模

幹法去膠裝置市場

基於行業訪談及券商分析報告的綜合估算(公開資料未見Gartner、Yole等機構單獨拆分”去膠裝置”的精確報告,以下為合理估算):

年份全球幹法去膠裝置市場估算值增長驅動估算依據
2021約12-14億美元全球半導體裝置超級週期,WFE約1,026億美元(SEMI),去膠裝置佔比約1.3%佔WFE的比例法推算(與Lam/TEL/PSK營收驗證)
2022約15-17億美元先進製程擴產、儲存堆疊升級WFE約1,076億美元(SEMI),佔比約1.4-1.6%
2023約14-16億美元儲存市場週期性下行導致WFE萎縮,但邏輯/Foundry先進製程需求韌性WFE約1,009億美元(SEMI),佔比約1.5%
2024E約16-19億美元儲存市場復甦、AI晶片拉動2nm/GAA投資WFE預計增長至約1,100-1,200億美元(SEMI 2024年7月預測),去膠佔比微升
2027E約20-25億美元3D NAND層數繼續增長、GAA大規模量產、先進封裝需求SEMI預測WFE 2027年約1,400-1,500億美元,去膠佔比趨勢性提升至約1.5-1.7%

E=估算,資料來源標註為估算,精確數字以專業機構的統計資料為準

邏輯節點與去膠裝置需求的相關性分析

  • 28nm→16nm→7nm→5nm→3nm,光罩層數增加→單晶圓去膠次數增加→裝置需求量增加
  • 一個5nm/月產能45,000片的工廠(如台積電Fab18部分階段),估計年均去膠裝置消耗量約1,500萬-2,500萬美元(淡出、擴容、技改均在列,具體配置因產品組合而異,公開資料未見精確推導)

溼法剝離材料市場

年份全球半導體溼法剝離液及相關化學品市場估算備註
2021約6-8億美元含SPM、有機配方剝離液及其配套品
2023約8-10億美元先進配方佔比提升推高ASP(單價約為SPM的3-10倍)
2027E約12-15億美元產能擴張+配方升級雙驅動

該資料為綜合Entegris、Soulbrain、東進世美肯等主要供應商半導體溼化學品營收及關聯行業調研的估算,並無權威第三方單獨統計。

中國市場

據公開券商研究及行業論壇資訊,中國(大陸)光刻膠剝離裝置及材料市場2023年約為全球的20-25%(即約5-8億美元,含裝置與材料),且增速高於全球均值。核心邏輯:

  1. 中國晶圓產能全球佔比持續提升(SEMI統計中國2023年全球產能份額約24%,2027年預計約27%)
  2. 國產化率提升:幹法去膠裝置國產化率估計已從2019年的<5%提升至2023年的10-15%(屹唐半導體招股書及相關分析),溼法化學品先進配方國產化率仍較低(估計<10%)
  3. 受地緣政治影響,中國晶圓廠更積極推進國產替代,為本土去膠裝置與材料供應商提供了驗證視窗期

玩家對比

幹法去膠裝置:全球雙龍頭 + 國內追趕者

對比維度Lam ResearchTokyo Electron屹唐半導體
成立/進入去膠領域1980年成立(去膠隨刻蝕業務發展)1963年成立2016年收購Mattson Technology(原美國公司)
去膠裝置品牌GAMMA®系列TELFORMULA™系列Suprema®系列
核心技術路線RPS(遠端等離子體源)、微波下游等離子體,手握IceFill™低溫專利技術多模式等離子體源、雙頻偏壓控制ICP源,部分引入RPS,多條技術路線並行
主要製程覆蓋5nm/3nm已量產驗證;2nm/GAA開發中5nm/3nm量產出貨;與Lam在頭部客戶中正面競爭28nm及更成熟節點為主力;14nm已驗證;公開資料未見5nm及以下量產資訊
全球份額(2023E)~45-50%~20-25%~2-4%
關鍵客戶台積電、Intel、三星、SK海力士、美光等幾乎所有頭部晶圓廠台積電、三星、SK海力士、鎧俠等中芯國際、華虹、長江儲存、長鑫儲存等國內主力晶圓廠
2023財年相關業務規模刻蝕(含去膠)營收約80-90億美元(佔半導體系統約60%)刻蝕/去膠營收估計約5,000-6,000億日元(佔半導體裝置營收約30%)2020年營收11.8億元(近期公開資料未單獨更新)
研發投入強度2023財年研發投入約17億美元(佔營收10%),去膠為刻蝕研發的一部分2023財年研發投入約1,400億日元(佔半導體裝置營收約8%)公開資料未見2023年最新單獨資料;2020年研發費用約2.6億元(佔營收22%,招股書)

溼法剝離化學品:配方定製的競爭壁壘

對比維度Entegris安集科技江化微
核心能力超高純化學品配方平台,上下游垂直整合(原料+配方+供液系統)CMP拋光液+後道清洗液見長,銅/鈷工藝有深耕面板→半導體雙線發展,具備高純生產能力
剝離液產品成熟度前沿節點主流供應商,向EUV/3nm/2nm配方推進剝離液產品線拓展中,公開資料未見先進邏輯節點大量產驗證詳情面板剝離液成熟,半導體剝離液為升級方向(G5等級產品2022-2023年開始出貨)
2023年相關營收規模溼法板塊營收估計約10-14億美元(推算自AMS部門營收)總營收14.2億元,剝離液佔比有限總營收約11億元,半導體板塊剝離液佔比提升中
主要客戶台積電、三星、Intel、SK海力士等中芯國際、華虹、長存、部分臺灣客戶國內面板/晶圓廠
競爭優勢客戶滲透最深、品類最廣、供應鏈縱向整合CMP方向國產替代標杆,製程互補利於切入同客戶剝離液需求價效比、國產供應鏈安全敘事

綜合競爭維度評估(定性)

| 維度 | Lam Research | TEL | 屹唐半導體 | Entegris

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